Netwerkbijeenkomst: kennismaking nieuwe testapparatuur van Instron én onze nieuwe directeur

Wil je kennismaken met onze nieuwe testapparatuur van Instron én onze nieuwe directeur? Kom dan op donderdag 25 november om 14.45 uur bij Polymer Science Park voor eindelijk weer een fysieke netwerkbijeenkomst!  Namens Polymer Science Park nodigen wij u graag uit.

Wat kunt u verwachten?

Wij zijn erg trots op onze samenwerking met Instron en willen jullie graag laten kennismaken met de mogelijkheden van onze nieuwe testapparatuur. Heeft u dus een vraag/case over het (mechanisch/thermisch) testen van uw kunststoffen? Geef dit van te voren door aan ons via info@polymersciencepark.nl en dan proberen we om uw vraag ter plekke te beantwoorden.  Daarnaast vinden er verschillende demonstraties van de apparatuur plaats tijdens de netwerkbijeenkomst. Deze samenwerking met Instron hebben we mede op kunnen zetten door de start van ons Materials Platform (React-EU). Benieuwd wat er nog meer aan machines en apparatuur bij PSP wordt geplaatst? En wat ons Materials Platform voor u betekent? Meld je dan aan! Naast netwerken met alle aanwezigen, kunt u ook kennismaken met onze nieuwe directeur: Gijs Langeveld.

Programma donderdag 25 november 2021

14:45 uur | Inloop bij Brein (in het pand naast PSP op het bedrijventerrein)
15:00 uur | Welkom en voorstellen nieuwe directeur Gijs Langeveld
15:15 uur  | Mogelijkheden Materials Platform
15:45 uur| Verplaatsen naar PSP bezoek testlab/netwerken/spuitgietlab
16:00 uur | In 3 parallelle sessies mogelijkheid om onderstaande activiteiten te volgen:

  • demonstratie nieuwe apparatuur Instron lab (vragen/cases behandelen)
  • demonstratie spuitgietlab
  • netwerken

17:30 uur | Afsluiting borrel

Locatie

Polymer Science Park
Ceintuurbaan 15
8022 AW Zwolle

Aanmelden

Graag aanmelden bij Manita van der Ploeg (m.vanderploeg@polymersciencepark.nl). Na aanmelding volgt verdere informatie over het programma.

Heb je een vraag?

Bel ons op 038 853 4810 of maak gebruik van het onderstaande contactformulier.